Elektrónovej mikroskopie

Zodpovední pracovníci: prof. Ing. Peter Palček, PhD., Ing. Mária Chalupová

Laboratórium je vybavené dvoma riadkovacími mikroskopmi TESLA BS 343 (mobilný mikroskop s jednoduchou obsluhou a krátkym časom na výmenu vzorky) a TESLA VEGA II (ultravákuový mikroskop s vysokou rozlišovacou schopnosťou, lepšou ako 5 nm, ktorý je vybavený detektormi odrazených, sekundárnych, absorbovaných a Augerových elektrónov) s EDX analýzou.

Laboratórium zabezpečuje nasledovné analýzy:

  1. mikrofraktografia a fraktografia lomových plôch po preťažení, únavovom porušení a tečení;
  2. hodnotenie degradácie povrchov kovových materiálov;
  3. hodnotenie makroštruktúry a mikroštruktúry materiálov v liatom a tvárnenom stave (ocelí, liatin a neželezných kovov) za účelom posúdenia kvality tepelného spracovania, alebo pre potreby analýz pri zisťovaní príčin materiálových porúch;
  4. hodnotenie makroštruktúry a mikroštruktúry materiálov za účelom posúdenia štruktúrnej degradácie;
  5. hodnotenie stupňa ovplyvnenia štruktúry v prípade havárie zariadenia spôsobených prekročením predpísaných prevádzkových teplôt za účelom posúdenia možnosti ďalšej prevádzky;
  6. hodnotenie veľkosti, tvaru a usporiadania zrna;
  7. hodnotenie veľkosti, rozloženia a tvaru inklúzií, precipitátov a segregátov;
  8. hodnotenie hrúbky povrchových vrstiev, nitridovaných, cementovaných a pod.;
  9. posudzovanie druhu a stupňa korózneho napadnutia.
Riadkovací elektrónový mikroskop TESCAN LMU II EDX-analyzátor BRUKER

Riadkovací elektrónový mikroskop TESCAN LMU II EDX-analyzátor BRUKER

Riadkovací elektrónový mikroskop TESLA BS 343

Riadkovací elektrónový mikroskop TESLA BS 343