Pri tejto príležitosti poskytol náš kolega prof. Peter Palček rozhovor pre spoločnosť TESCAN, v ktorom približuje, ako elektrónová mikroskopia pomáha čítať „príbeh“ materiálov — od ich štruktúry až po stopy, ktoré v nich zanecháva zaťaženie či poškodenie.

Nové vybavenie posúva naše možnosti v oblasti detailnej analýzy materiálov a zároveň nadväzuje na dlhoročnú tradíciu elektrónovej mikroskopie na Žilinskej univerzite.

Celý rozhovor si môžete prečítať  na stránke TESCAN